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而在關注雙束電鏡多種類的情況，產品在FIB精確樣品修飾方面帶來的使用情況確實是很不錯的。并且把握產品知識過程中，材料高度局部表征的新挑戰(zhàn)也引起了越來越多人的關注。具體在納米級別結構以及組分信息考慮過程中，確實可以更好地掌握這些涉及到的情況，從而使得具體的滿意度變得很高，納米原型得到的結果情況確實也會變得不錯。